ROHS檢測儀之XRF的原理詳解
X射線定義:
l X射線是一種波長較短的電磁輻射,通常是指能量范圍在0.1-100KeV的光子.X射線與物質(zhì)的相互作用主要有熒光.吸收.散射三種。X射線的熒光物質(zhì)中的組成元素產(chǎn)生特征輻射,通過測量和分析樣品產(chǎn)生的X射線熒光,即可獲得樣品中的元素組成,得到物質(zhì)成分的定性和定量信息.
l X射線光譜儀通常可分為兩大類:波長色散(WDXRF)和能量色散(EDXRF)X射線熒光光譜儀.
l X射線熒光分析技術(shù)的缺點(diǎn)是檢出限不夠低,不適于分析輕元素,依賴標(biāo)樣,分析液體樣品手續(xù)比較麻煩.由于電感耦合等離子質(zhì)譜儀(ICP-MS)具有的痕量.超痕量分析能力.因此目前國內(nèi)外分析實(shí)驗(yàn)室一種流行的趨勢是同時(shí)配備X射線熒光光譜儀和電感耦合等離子質(zhì)譜儀(ICP-MS).利用XRF分析含量較高的元素,而用ICP-MS分析低濃度的元素.
X熒光的基礎(chǔ)知識
由于K層電子與L/M層電子能量不同,補(bǔ)位電子會釋放出多余能量,該能量的表現(xiàn)形式為X熒光(躍遷)。此熒光可被探測器接受測量并可反映出元素的具體信息。經(jīng)過分析后zui終獲得元素種類及組成比例的信息。
當(dāng)X光束照射到測試樣品上,受照射區(qū)域物質(zhì)的組成元素的內(nèi)層電子,會應(yīng)受到X光轟擊溢出,為保持其內(nèi)部平衡,該原子L層或M層的外層電子會補(bǔ)充這個(gè)電子空位。
特征X射線的產(chǎn)生機(jī)理
l 同樣當(dāng)K空位被M層電子填充時(shí),則產(chǎn)生Kβ輻射。M能級與K能級之差大于L能級與K能級之差,即一個(gè)Kβ光子的能量大于一個(gè)Kα光子的能量; 但因L→K層躍遷的幾率比M→K遷附幾率大,故Kα輻射強(qiáng)度比Kβ輻射強(qiáng)度大五倍左右。
l 顯然, 當(dāng)L層電子填充K層后,原子由K激發(fā)狀態(tài)變成L激發(fā)狀態(tài),此時(shí)更外層如M、N……層的電子將填充L層空位,產(chǎn)生L系輻射。因此,當(dāng)原子受到K激發(fā)時(shí),除產(chǎn)生K系輻射外,還將伴生L、M……等系的輻射。除K系輻射因波長短而不被窗口*吸收外,其余各系均因波長長而被吸收。
l Kα雙線的產(chǎn)生與原子能級的精細(xì)結(jié)構(gòu)相關(guān)。L層的8個(gè)電子的能量并不相同,而分別位于三個(gè)亞層上。Kα雙線系電子分別由LⅢ和LⅡ兩個(gè)亞層躍遷到K層時(shí)產(chǎn)生的輻射,而由LI亞層到K層因不符合選擇定則(此時(shí)Δl=0),因此沒有輻射。
X射線熒光
光譜學(xué)上的“熒光”:泛指物質(zhì)受到外來的原級輻射照射時(shí),物質(zhì)發(fā)出的次級輻射,波長(能量)在X射線范圍的熒光叫X射線熒光。不僅X射線可以產(chǎn)生熒光,可見光、紫外線也可以產(chǎn)生熒光。
ROHS檢測儀的價(jià)格差異主要取決于以下幾個(gè)因素:
1. 品牌和制造商:知名品牌和專業(yè)制造商生產(chǎn)的ROHS檢測儀通常價(jià)格較高,但具有更可靠的性能、技術(shù)支持和售后服務(wù)。
2. 功能與特性:不同型號的ROHS檢測儀可能具有不同的功能和特性,如測試范圍、精度、分辨率等。更高級別或多功能的設(shè)備往往價(jià)格更高。
3. 技術(shù)水平:先進(jìn)的技術(shù)會使設(shè)備成本增加,例如更精密且穩(wěn)定的探測器、更快速和準(zhǔn)確的分析算法等。
4. 采樣方式:ROHS檢測儀可以通過不同方式進(jìn)行采樣,如無損傷采樣或破壞性采樣。破壞性采樣需要額外耗材并且可能導(dǎo)致成本上升。
5. 數(shù)據(jù)處理軟件:一些ROHS檢測儀配備了強(qiáng)大且易于使用的數(shù)據(jù)處理軟件,并提供數(shù)據(jù)管理及報(bào)告生成功能。這些附加功能會影響設(shè)備價(jià)格。
6. 國家/地區(qū)規(guī)格要求:某些國家或地區(qū)對ROHS認(rèn)證有特殊要求,為了符合這些要求,相應(yīng)的ROHS檢測儀可能需要進(jìn)行定制或適應(yīng)調(diào)整,從而影響價(jià)格。
需要注意的是,較低價(jià)格并不一定意味著質(zhì)量差。在購買ROHS檢測儀時(shí),建議根據(jù)實(shí)際需求和預(yù)算綜合考慮以上因素,并選擇具有良好性能和可靠品牌支持的設(shè)備。